活动简介

International Test Conference, the cornerstone of TestWeek events, is the premier comference dedicated to the electronic test of devices, boards, and systems - covering the complete cycle from design verification, test, diagnosis, failure analysis, and back to process improvement. AtITC, test and verification professionals can confront the challenges the industry faces, and learn how these challenges are being addressed by the combined efforts of academia, design tools and equipment designers, and test engineers.

征稿信息

重要日期

2026-04-18
初稿截稿日期
留言
验证码 看不清楚,更换一张
全部留言
重要日期
  • 会议日期

    10月10日

    2026

    10月17日

    2026

  • 04月18日 2026

    初稿截稿日期

  • 10月17日 2026

    注册截止日期

主办单位
Lone Star Section
Philadelphia Section
承办单位
Lone Star Section
Philadelphia Section
历届会议
移动端
在手机上打开
小程序
打开微信小程序
客服
扫码或点此咨询
待审活动
务必谨慎