第一届全国绝缘材料与封装技术学术研讨会(IMPT2017)将于2017年10月28-29日在中国天津大学举行,我们热忱地期待您的到来。本次会议的主题包括绝缘材料、绝缘技术、封装技术与工艺、可靠性分析、封装失效分析与评估以及其他相关领域。 天津素有"渤海明珠"之美誉,我们相信这将是此次活动的理想场所。我们诚挚欢迎您来到中国天津。
大会主席
洪彬:副教授,天津大学
程序主席
陈平:教授,大连理工大学
袁才登:教授,天津大学
程序委员会
任立环:研究员,天津大学
张连红:教授,天津大学
陶俊卫:研究员,天津大学
贺小建:教授,中国工程物理研究院
王刚:研究员,中科院电子所
吴磊:研究员,天津核工业理化研究院
于逸:研究员,天津合成材料工业研究所
陈红:副研究员,《热固性树脂》主编
曾威:副教授,天津科技大学
李志宏:副研究员,天津大学
张晓川:副教授,天津商业大
张大卫:教授,天津大学
雷杨俊:博士,中国工程物理研究院
彭康:副研究员,中国工程物理研究院
邹林:副研究员,《热固性树脂》编辑
江红:教授,河海大学
论文投稿
1. 投稿方式:点击立即投稿
2. 格式和模板:所有参赛作品必须是英语且论文不得超过长8页,作者可以参考模板来准备论文
3. 政策:提交的论文以前不得在任何地方发布过,不得在IMPT2017审查过程之前和期间将论文提交任何其他会议。向会议提交论文意味着如果论文被接受,至少有一位作者将为提交的论文注册并参加会议。
主题包括但不限于:
1.绝缘材料与绝缘技术研究
新型绝缘材料研究
绝缘材料合成技术研究
绝缘材料应用技术研究
塑性成型材料研究
材料绝缘机理性研究
绝缘性能检测分析研究
电气绝缘技术研究
高压绝缘技术研究
2.封装技术与工艺研究
先进封装技术研究
先进封装工艺研究
新型封装材料研究
封装性能测试研究
半导体封装研究
LED封装研究
MEMS封装研究
功率器件封装研究
系统封装及组装技术研究
先进成型工艺技术研究
3.可靠性研究
绝缘封装可靠性研究
元器件可靠性分析研究
可靠性理论分析研究
环境可靠性分析研究
加速试验技术研究
可靠性检测与评估研究
新型可靠性分析技术研究
4.封装失效分析与评估研究
封装失效分析研究
封装失效机理性研究
封装失效检测与评估技术研究
新型失效诊断及预测技术研究
无损检测技术研究
5.其他相关领域
1.每篇文章至少有一位作者在规定时间(8月31日)内完成注册。
2.注册费包括论文集注册费、检索费、航空运输费、海关通关关税、进口出版物增值税、会议室费用、会间茶点、会议宴会、会议期间午餐和晚餐。参会人员会议期间的交通费和住宿费自理。
3.如果同一作者有多于一篇以上的文章被录用,每篇文章都应该分开注册,其中第一篇文章按照正式代表注册(如果学生代表有多篇论文录用,第一篇则按照学生代表标准注册),其它文章按照"额外论文注册"费用标准注册。同一作者注册多篇论文时,他/她应该为多篇论文的第一作者。而且这多篇论文享受注册优惠后多篇论文只能由注册论文中的一名作者作为代表参会,论文的其他作者将不能参会。如果这多篇论文的其他作者要参会,就必须以参会/陪同人员身份额外注册。
4.在大会论文注册截止之后,所有作者将收到由组委会发送的论文版权转让协议书。作者需要签署该文件以完成论文版权转让和出版事宜。
10月28日
2017
10月29日
2017
初稿截稿日期
注册截止日期
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