报告详情
  1. 活动首页
  2. 报告清单
  3. 报告详情
Research on the measurement of space charge mobility in liquid dielectric based on the Kerr effect
编号：387 访问权限：仅限参会人 更新：2022-09-09 16:09:23 浏览：111次 口头报告

报告开始：暂无开始时间（Asia/Shanghai）

报告时间：暂无持续时间

所在会场：[暂无会议] [暂无会议段]

演示文件 附属文件

提示：该报告下的文件权限为仅限参会人，您尚未登录，暂时无法查看。

摘要
The migration process of space charges in liquid dielectrics under a strong electric field often includes complex dynamic processes such as charge generation, scattering, and disappearance, which are difficult to measure. In this paper, SiO2 films with a thickness of about 100, 200, and 400 nm are deposited on the electrode surface by magnetron sputtering, respectively. To explore the effect of space charge injection on its subsequent migration at switching overvoltage, the electric field and space charge distribution is measured based on the Kerr electro-optic effect, and the film thickness effect on the charge migration of propylene carbonate is discussed. The results show that the increase in film thickness effectively suppresses the amount of charge injected by the electrode, compared with the case where the SiO2 film is not deposited, but it has little effect on the space charge mobility of the liquid dielectric. A measurement method for measuring the space charge mobility of liquid dielectric is proposed, which is used in the simulation of the space charge transport process in future work. 
 
关键词
Kerr effect;SiO2 film;space charge measurement;charge mobility
报告人
Zhaotian Zhang
Chongqing University

稿件作者
Zhaotian Zhang Chongqing University
Yang Qing Chongqing University
Wu Shilin Chongqing University
He Wenkai Chongqing University
发表评论
验证码 看不清楚，更换一张
全部评论
重要日期

  • 会议日期

    09月25日

    2022

    至

    09月29日

    2022

  • 08月15日 2022

    提前注册日期

  • 09月10日 2022

    报告提交截止日期

  • 11月10日 2022

    注册截止日期

  • 11月30日 2022

    初稿截稿日期

  • 11月30日 2022

    终稿截稿日期

主办单位
IEEE DEIS
承办单位
Chongqing University
联系方式
登录查看完整联系方式
历届会议
移动端
在手机上打开
小程序
打开微信小程序
客服
扫码或点此咨询