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229 / 2017-11-22 10:01:26
Radiation Effects of 5MeV Proton on Wet Oxidation SiO2/4H-SiC MOS Capacitor
wet oxidation,proton irradiation,4H-SiC MOS capacitors,SRIM
全体主题 > Harsh environment (e.g. high temperature) operation and reliability
终稿
Haojie Li / Xidian University
Qingwen Song / Xidian University
Yuming Zhang / Xidian University
Xiao-Yan Tang / Xidian University
Dongxun Li / Xidian University
重要日期

  • 会议日期

    05月17日

    2018

    至

    05月19日

    2018

  • 12月08日 2017

    摘要截稿日期

  • 01月30日 2018

    摘要录用通知日期

  • 02月10日 2018

    初稿截稿日期

  • 02月10日 2018

    终稿截稿日期

  • 05月19日 2018

    注册截止日期

主办单位
IEEE
IEEE ELECTRONIC DEVICE SOCIETY
IEEE POWER ELECTRONIC SOCIETY
中国电源学会
中国半导体产业创新联盟
承办单位
西安交通大学
西安电子科技大学
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